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PlantScreen高通量表型組學平臺研究葉片衰老
發布時間: 2020-06-28 點擊次數: 1997次韓國大邱基礎科學研究所Jeongsik Kim、Pyung Ok Lim等,利用PlantScreen大型高通量表型組學研究平臺,對植物葉片衰老進行了系列研究(參見論文:Jae IL Lyu etc. 2017. High-throughput and computational study of leaf senescence through a phenomic approach. Frontiers in Plant Science):
研究綜合利用了平臺的葉綠素熒光成像、VNIR高光譜成像、SWIR高光譜成像、RGB成像、紅外熱成像等高通量表型分析技術及系統提供的葉片跟蹤分析功能(leaf tracking analysis),在線采集分析了150個表型性狀參數,包括四十多個葉綠素熒光參數、近百個高光譜植物光譜反射指數參數,全面研究分析了擬南芥葉片生活周期及衰老表型組學。
易科泰生態技術公司提供植物表型組學全面技術方案:
1)FluorPen手持式葉綠素熒光儀、PlantPen/PolyPen手持葉夾式高光譜儀,提供方便實用、功能全面的手持式葉片水平(leaf-level)表型測量技術和監測技術
2)便攜式葉綠素熒光成像、高光譜成像、紅外熱成像、光合作用與葉綠素熒光成像復合系統,為大田作物表型組學研究提供方便實用、功能全面的便攜式葉片水平和冠層水平表型測量技術
3)實驗室臺式表型成像分析系統、作物種質資源檢測系統,FluorCam葉綠素熒光成像、高光譜成像、紅外熱成像、RGB成像等表型分析全面技術方案
4)大型高通量植物表型系統集成方案/PlantScreen表型分析平臺
a)FluorCam葉綠素熒光成像技術,植物生理功能表型分析主流技術
b)多光譜熒光成像分析技術,多激發光、多光譜熒光,初級代謝、次級代謝表型組學研究
c)VNIR高光譜、SWIR高光譜成像分析技術
d)RGB 3D形態結構與顏色成像分析
e)高分辨率紅外熱成像分析
f)3D激光掃描分析
g)高通量根系分析
h)自動澆灌與稱重
5)野外大田表型分析技術
a)Thermo-RGB紅外熱成像與RGB成像融合技術
b)Specim高光譜成像技術
c)Ecodrone®無人機遙感與近地遙感技術
d)PhenoPlot輕便型表型分析系統
e)SpectraScan大型高通量表型分析平臺
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